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CX-118A型晶振测试仪主要测试功能

日期:2020-07-09 18:40
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摘要:
CX-118A型晶振测试仪主要测试功能
1.概述
CX-118A型晶振测试仪使用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1Pr8(ppm) 、上限频率FU、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。
2.主要特征
21 本机采用倒数计数技术,测量精度高,测量范围宽,真正实现等精度测量,测量速度快,灵敏度高。
22 采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理,使得仪器具有很高的可靠性和优良的性能/价格比。
23 整机采用大规模集成电路设计,CPLD器件的运用,使仪器元器件大为减少,可靠性有了很大的提高,平均无故障工作时间≥10000h
·     整机外型美观大方,体积小,重量轻,使用方便。
3.技术参数
3.1 测量范围
·     频率测量:A通道:1Hz100MHz
B通道:100MHz1.6GHz(选件)
·     周期测量:A通道:10ns1s
·     PPM测量:-99999999ppm
·     上、下限测量:可根据用户所设定的上限参数FU、下限参数FL来测量被测频率是否超出上、下限,超限则报警。
·     分档测量:根据用户所设定的中心频率F0自动进行分档测量。分档值:Pr1Pr8可在1999ppm之间任意设置
分档档数:以中心频率F0为中点左右分成16
·     累加计数:计数容量:01091 (选件)
计数方式:键控、门控或外门控可选。
3.2 输入特性
·     输入阻抗: A通道: 1MΩ//40pF
B通道: 50Ω
3.2.2 输入耦合方式:AC
3.2.3 波形适应性:正弦波、脉冲波
·     输入电压动态范围:
A通道:30mVrms250Vpp
B通道: 30mVrms1Vrms
3.2.5 A通道低通滤波器:-3dB 带宽约100kHz
3.2.6 A通道衰减:×1×20
3.3 测量误差
3.3.1 频率或周期测量误差:±时基误差±触发误差±LSD
100ns
其中:LSD─────×被测频率(或被测周期)
闸门时间
触发误差:当被测信号的信噪比为40dB时,触发误差≤0.3%
·     PPM测量误差:±时基误差±触发误差±LSD
其中:LSD(100ns/闸门时间)×106ppm
例如:闸门时间=1s LSD0.1ppm
闸门时间=0.1s LSD1ppm
3.3.3 计数误差:±1
3.4闸门时间
固定闸门:10ms100ms1s10s 四档可选;
可调闸门:50ms95ms 10档,每档间隔5ms
3.5 晶体振荡器
标称频率:10MHz
频率稳定度:5×10-6/d
(可根据用户需求,选配更高量级的晶振。
如:1×10-6/d5×10-7/d1×10-7/d等)。
3.6 外频标输入
输入频率:10MHz
输入幅度:>1Vpp 正弦波
3.7 显示
130.4吋绿色高亮数码管,三个单位LED指示灯(MHzkHzHz),一个闸门LED指示灯(GATE),一个外频标LED指示灯(EXT)和一个PPM单位指示灯(PPM)。
3.8 电源
电压:交流220V±10%
频率:50Hz±5%
功耗:<8VA
3.9 外形尺寸:230×250×90(mm)
3.10 质量:<1.5kg
晶振测试盒选配:
晶体测量匹配器:
1Hz-20MHz (标配)
20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz
65MHz-100MHz .
 
 
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