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紫外辐照计的技术参数

日期:2020-09-25 22:31
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摘要: 紫外辐照计 适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。本机型为便携式,有单通道和双通道两种。 主要性能指标: 波长范围及峰值波长(任选一种): (1)UV-365探头:λ:(320~400)nm;λP=365nm (2)UV-420探头:λ:(375~475)nm;λP=420nm 辐照度测量范围:(0.1~199.9×103)μW/cm2 紫外带外区杂光:UV365:小于0.02% UV420:小于0.02% 余弦特性:符合国家...

紫外辐照计
 适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。本机型为便携式,有单通道和双通道两种。

主要性能指标:
 
波长范围及峰值波长(任选一种):

(1)UV-365探头:λ:(320~400)nm;λP=365nm
 
(2)UV-420探头:λ:(375~475)nm;λP=420nm
辐照度测量范围:(0.1~199.9×103)μW/cm2

紫外带外区杂光:UV365:小于0.02%

                UV420:小于0.02%

余弦特性:符合国家二级光照度标准

准确度:±10%

响应时间:1秒

使用环境:温度(0~40)℃;湿度<85%RH

尺寸和重量:180mm×80mm×36mm;0.2kg

电源:9V积层电池(6F22型)一只

 

 
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