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CX-118A晶体测试仪

  • 产品名称:CX-118A晶体测试仪
  • 产品型号:CX-117A
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简单先容
晶体测试仪 产品概况: 一、CX-117A是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1 ~Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。

CX-118A晶体测试仪

的详细先容

晶体测试仪
产品概况:
一、CX-117A是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1 ~Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。
具有PPM测量功能,预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业,测试结果显示直观。
主要功能:频率测量,PPM测量,周期测量,数据累计 ,功能设定
  

二、主要技术指标:
  频率测量范围: 0.1Hz — 100MHz
  频率测量灵敏度:25mv
  PPm测量:10 Hz — 100 MHz
  PPm测量精度:≤1 PPm (1×10-6)
  (可扩展0.1PPm , 0.01 PPm)
  中心频率:0 Hz — 100 MHz任意设定
  误差设置范围设定: ± 1 — ± 999 PPm任意设定。
  闸门设置:四档 ,0.01s、 0.1s、1s三档固定,
  1档闸门1ms — 10s可设,
  每1mS为一阶梯任意设定。
  周期测量范围:100 ms — 10 s
  时基频率:10MC
  晶振稳定性:5 ×10-7 / 日

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